X射線熒光光譜儀(X-rayFluorescenceSpectrometer,簡稱:XRF光譜儀),是一種快速的、非破壞式的物質(zhì)測量方法。X射線熒光(XRF)是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發(fā)出的次級X射線。這種現(xiàn)象被廣泛用于元素分析和化學分析,特別是在金屬,玻璃,陶瓷和建材的調(diào)查和研究,地球化學,法醫(yī)學,考古學和藝術(shù)品,例如油畫和壁畫。
X射線熒光光譜儀產(chǎn)品特點:
1、無損檢測,可對電子電氣設(shè)備,玩具指令中的有害物質(zhì)進行定性定量分析。
2、測量時間短,客戶可選擇測試時間:60-300秒。
3、全封閉式金屬機箱及防泄漏保護開關(guān)設(shè)計,更好地確保操作員的人身安全。流水線型外觀,美觀大方。
4、配備XY軸可移動平臺,方便樣品點選測試。
5、點擊軟件電動自動開關(guān)樣品腔蓋,無需手動打開關(guān)閉,人性化操作!
6、采用美國電制冷Si-pin探測器:提高分析的準確性,無需耗材。
7、超短光路設(shè)計,配套*的光管管控程序,更有效延長X光管壽命。良好的散熱系統(tǒng),更能確保儀器的超長使用。
8、上照式:可滿足各種形狀樣品的測試需求,的樣品成像準直系統(tǒng),實現(xiàn)對樣品的準確點測。
9、移動平臺:精細的自動移動平臺,方便定位測試點。
10、準直器和濾光片:多種準直器和濾光片的電動自動切換,滿足各種物質(zhì)測試方式的應用。