手持式合金光譜分析儀是一種XRF光譜分析技術(shù)，X光管產(chǎn)生的X射線打到被測(cè)樣品時(shí)可以擊出原子的內(nèi)層電子，出現(xiàn)殼層空穴，當(dāng)外層電子從高軌道躍遷到低能軌道來(lái)填充軌道空穴時(shí)，就會(huì)產(chǎn)生特征X射線。X射線探測(cè)器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號(hào)轉(zhuǎn)換成易于測(cè)量的電信號(hào)來(lái)得到待測(cè)元素的特征信息。

　　掌握手持式合金光譜分析儀測(cè)試的準(zhǔn)確性之前，這些因素會(huì)影響測(cè)試結(jié)果

　　1.儀器校準(zhǔn)：在儀器生產(chǎn)之前，進(jìn)行了一套主要參數(shù)法(FP)，但并不一定適用于所有的印刷電路板材料，因此須根據(jù)實(shí)際測(cè)試條件，用相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)樣品進(jìn)行校準(zhǔn)。

　　2.動(dòng)態(tài)能量效率校正：目前的探測(cè)器是硅漂移SDD。一般應(yīng)用幾個(gè)小時(shí)后，進(jìn)行動(dòng)態(tài)能效校正，以確保元素譜峰識(shí)別的準(zhǔn)確性。如果儀器能在每次測(cè)試前進(jìn)行全自動(dòng)校準(zhǔn)，它將進(jìn)一步確保這一特性。

　　3.測(cè)試時(shí)間：在基本理論中，增加測(cè)試時(shí)間將導(dǎo)致相對(duì)偏差的低限和相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差。事實(shí)上，測(cè)試時(shí)間的長(zhǎng)短*取決于被測(cè)元素和含水量。

　　4.檢測(cè)窗口很小，約為2平方厘米，因此應(yīng)確保試品檢測(cè)區(qū)域成分均勻。如果非常大的顆粒在這個(gè)區(qū)域，測(cè)試結(jié)果會(huì)出現(xiàn)誤差。

　　5.如果土壤樣品裝在試品杯中進(jìn)行測(cè)試，建議裝在試品杯中(約5克)。

　　6.試品水含量的增加將立即降低元素測(cè)試的結(jié)果。

　　手持式合金光譜分析儀是用來(lái)現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)來(lái)料、區(qū)分混料的一種重要檢測(cè)儀器，單位現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)的材料種類繁多，涉及各種牌號(hào)，傳統(tǒng)檢測(cè)手段分析時(shí)間長(zhǎng)、且不能在現(xiàn)場(chǎng)直接分析而且分析具有破壞性。儀器的用戶分析界面比較清晰直觀，還能自行定制主屏幕上的功能快捷鍵，很方便，而且比較智能化，可以進(jìn)行數(shù)據(jù)歸檔，既省時(shí)，準(zhǔn)確性又高，減少了歸檔錯(cuò)誤的發(fā)生，在人工操作和使用上非常方便?？煞治?0多種合金元素，精度高，穩(wěn)定性好、重現(xiàn)性好，可直觀顯示合金和元素百分比含量，能確保準(zhǔn)確性、可靠性?？擅y(cè)、快速、無(wú)損。